16K 线扫镜头 (II) - 16K3.5µm
| 型号 | LS4016K-0.15X |
|---|---|
| 产品族 | 线扫镜头 |
| 系列 | 16K 线扫镜头 (II) - 16K3.5µm |
| 靶面尺寸 | Ø62 |
| 焦距 | 40 |
| 光圈范围 | 4 |
| 放大倍率 | 0.15X |
| 工作距离 | 419 |
| 接口 | M42/M58/M72/F |
| 备注 | Mag. range 0.13-0.17 |
| 备注 | 工作距离范围 225-295 |
免费下载 — 无需填写表单或注册。包含完整规格参数与标注尺寸的机械外形图；实测 MTF 与畸变数据可按需提供。
发送您的相机型号、视场与工作距离 — 我们在一个工作日内回复选型方案与实测数据。
LS4016K-0.15X 官方规格书预览 — 含外形尺寸、法兰后焦、螺纹规格与完整参数表。
LS4016K-0.15X 的分辨率与畸变数值随规格书提供。若按缺陷尺寸或测量公差选型，最关键的两项是传感器奈奎斯特频率处的 MTF 与实际视场内的畸变 — 两者均在规格书中给出。
MTF 由光学传递函数仪实测，可见光 / 近红外覆盖 0–500 lp/mm，长波红外覆盖 0–60 lp/mm，轴上测量精度优于 ±2%。
全系列畸变均经过严格控制；畸变测量精度优于 0.25%，规格书中的数据可直接代入您的测量模型使用。
批量出货可随附由 CMA / CNAS 认可光学检测中心出具的签章检测报告 — 下单时请注明所需检测项目。
在全幅面速度下检测极片涂布、隔膜与极耳焊接。
电池片与组件的 EL 检测、玻璃带及微裂纹检测。
连续卷材上的针孔、凝胶、涂布条纹与厚度偏差检测。
高线扫速率下的套印误差、色偏与条码校验。
镜头很少单独出问题 — 多数情况是光源、相机接口与机械结构各自选型、缺乏统筹所致。以下是我们建议您在下单前逐项确认的内容。
选用与扫描幅宽匹配的高均匀性 LED 线光源。线扫成像对光强衰减极为敏感 — 建议光源与镜头同步选型。
一台 M42 / M58 / M72 / F 接口线扫相机。选型前请确认传感器长度与镜头像圆匹配。
编码器或触发线缆需按线扫速率选型；镜头的 MTF 必须在您实际的像素时钟下依然达标，而非仅在静态条件下。
选用带俯仰 / 倾斜调节的稳定安装座。在高空间频率下，几微米的倾斜就会造成肉眼可见的解像力损失。
点击任一型号即可打开其独立的规格详情页。
| 型号 | 靶面 | 焦距 | 光圈 | 放大倍率 | 接口 |
|---|---|---|---|---|---|
| LS16006A-unifoc | Ø62 | 60 | 4 | 0.05X | M42/M58/M72/F |
| LS16010A-unifoc | Ø62 | 60 | 4 | 0.1X | M42/M58/M72/F |
| LS4016K-0.0446X | Ø62 | 40 | 4 | 0.0446X | M42/M58/M72/F |
| LS4016K-0.063X | Ø62 | 40 | 4 | 0.063X | M42/M58/M72/F |
| LS4016K-0.08X | Ø62 | 40 | 4 | 0.08X | M42/M58/M72/F |
| LS4016K-0.11X | Ø62 | 40 | 4 | 0.11X | M42/M58/M72/F |
| LS4016K-0.15X | Ø62 | 40 | 4 | 0.15X | M42/M58/M72/F |
告诉我们相机型号、视场、工作距离与待检缺陷尺寸。我们将确认适配型号、发送完整规格书与 3D 模型；若目录型号无法完全匹配，同时提供定制方案报价。